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會議時間

2023年06月01日 19:00 - 20:00

會議簡介

隨著汽車 “新四化”（電動化、網聯化、智能化、共享化）的趨勢不斷加速，半導體在汽車中的占比越來越高。據悉，一輛新能源汽車所需的芯片多達1000顆以上。隨著汽車芯片種類和數量應用的增長，也帶來了一個隱憂，那就是，任何一個芯片的失效，對一臺車來說很可能造成致命性損傷。想要打造一款零缺陷的汽車芯片，需要從芯片源頭的設計開始，到后面的制造、封測進行全方位的覆蓋才行。

『工欲善其事，必先利其器』，西門子 EDA 針對車規芯片的全面解決方案，已獲得 ISO26262 認證。針對車規芯片的開發，從代碼的編寫，到全芯片的全面語法語義的檢查，到模塊的功能驗證檢查，X 態的檢查，再到跨時鐘域和跨復位域的亞穩態檢查，提供了滿足 ISO26262 要求的靜態和動態檢查的解決方案，并能夠進一步針對網表進行跨時鐘域、時鐘樹及復位樹路徑和上的毛刺檢測，有效避免系統性失效的問題。在此基礎上，進一步針對隨機性失效的問題進行功能安全分析和優化，安全機制插入和故障注入仿真等工作，從而以更高的效率將功能安全落地實施，輕松玩轉 ISO26262。

嘉賓介紹

李一凡，Tessent 產品經理，西門子 EDA

Tessent 產品經理，負責 Tessent 產品以及 DFT 解決方案的市場推廣。有超過10年芯片設計驗證，DFT 方案實現和工具培訓的經驗。從 DFT 方案的設計落實，仿真驗證，到回片之后的測試診斷。全方位地為國內外客戶芯片測試保駕護航。

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